plaquette de silicium

Avec ses techniques de déflectométrie, l’entreprise Dip View a mis moins d’un an à passer du monde de la recherche à celui des industriels autour des composants électroniques. Le tout dans un monde concurrentiel en pleine mutation.

DIP-View, c’est l’histoire de la rencontre entre un entrepreneur spécialisé dans la technologie de pointe, Fernando Moreira, et des chercheurs du LAAS à Toulouse. Le laboratoire d’analyse et d’architecture des systèmes, un organisme sous tutelle du CNRS, avait mis au point une technologie innovante de détection des défauts des composants électroniques, et voulait savoir comment cela pouvait être utilisé dans le monde de l’entreprise. « Cela s’est fait en 2023, par le biais de la SATT Toulouse Tech Transfer, raconte Fernando Moreira, fondateur de l’entreprise. Très rapidement, nous avons réfléchi à la manière de mettre cette technologie sur le marché, et nous avons envoyé nos premiers produits dès la fin de l’année. »

Mesurer les déformations sur les galettes de silicium

La technologie en question est une méthode de déflectométrie : une manière de mesurer la déformation d’une surface à l’échelle du nanomètre. Une innovation cruciale pour les fabricants de puces électroniques qui se servent de galettes de silicium pour construire leurs composants. Ces disques de 30 centimètres de diamètre sont extrêmement plats, et se doivent d’être parfaits pour aboutir à la fabrication de puces sans défauts. Seulement, ils présentent parfois des aspérités minuscules, indétectables à l’œil nu, mais qui peuvent se révéler problématiques une fois le produit fini. Bien souvent, les fabricants ne se rendent compte qu’après que la puce est défectueuse à cause de ces galettes imparfaites. Il faut alors les jeter, ce qui diminue les rendements.

« Il est possible de repérer ces irrégularités avec un simple microscope, précise Fernando Moreira. Mais sur une surface aussi grande, c’est long et fastidieux. Nous, nous pouvons le faire en quelques secondes.» Comment ? L’idée est de poser la galette sur une sorte de damier qui se voit en transparence. Là, une lumière est braquée dessus, et une caméra haute-résolution capte les petites irrégularités qui apparaissent sur le motif. Ces informations sont passées à la moulinette d’un logiciel qui analyse les données et fournit une visualisation de toutes les différences sur la surface.

Il est possible de repérer ces irrégularités avec un simple microscope. Mais sur une surface aussi grande, c’est long et fastidieux. Nous, nous pouvons le faire en quelques secondes

Fernando Moreira

La rapidité de la solution pour résister à la concurrence

L’utilisateur a alors accès à tous les creux et les bosses d’à peine quelques nanomètres qui sont présentes sur le disque en apparence plane. Les équations utilisées, tout comme la modulation de la lumière, ont été brevetées. « C’est un secteur très concurrentiel, assure Fernando Moreira. D’autres techniques existent, basées sur des lasers ou des interféromètres, mais la plupart du temps il est impossible d’analyser en une fois l’intégralité d’une surface avec ce niveau de détail. »

C’est cette forte concurrence qui a poussé l’entreprise à commercialiser au plus vite ses machines. L’idée est de laisser les fabricants, la plupart du temps des sous-traitants en Asie ou aux Etats-Unis, vérifier de manière autonome la conformité de leurs galettes de silicium. DIP-View a donc pu compter rapidement sur le financement des clients sans faire appel à des sources externes.

Aujourd’hui, l’entreprise toulousaine compte une dizaine de salariés et prévoit un déménagement dans de nouveaux locaux plus grands, afin d’accompagner l’industrialisation de sa solution. « Nous restons à Toulouse pour garder la proximité avec le LAAS, reconnaît Fernando Moreira. Même si nous sommes sortis du monde de la recherche, il vaut mieux y garder un pied pour rester à la pointe de l’innovation, et toujours s’améliorer. »